探针台又称探针测试台，主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对材料、芯片等进行科研实验分析，抽查测试等用途。 KETF系列电学测试夹具是用于MOS管的接线测试，与Keithley2600系列源表配套使用，改进了LO端和HI端接口不一致问题。该系列夹具由我司自研生产，一端采用美国原装插排，另一端是LO和HI的标准三同轴接口，可与我司探针台三轴公头线缆直接连接，增加LO短接跳线,可以方便的将双通道的两个LO极短接在一起，提高测试精度，是一款方便好用的测试辅件。 |
 |  | 技术优势：
. 适用于Keithley2600系列源表 . 改进了LO端和HI端接口不一致问题 . 一端选用美国原装插排，另一端是标准BNC或三轴接头 . 可与我司探针台三轴公头线缆直接连接 . 增加LO短接跳线，方便LO极短接 . 用于MOS管接线测试，提高测试精度 |
常规选型：
产品型号 | 接口类型 | 漏电精度 | 电压范围 | 适用源表 | KETF-EB | 同轴BNC | 10pA | ≤1400V | 2600系列 | KETF-EX | 三同轴接口 | 100fA | ≤1400V | 2600系列 |
应用介绍： KEITHLEY 2600系列源表后面是一个插排，若直接测试会降低测试精度，我司该系列三轴连接器可以完全匹配该系列源表，增加LO端短接跳线,可以方便的将双通道的两个LO极短接在一起， 用于MOSFET等三端器件的接线测试，提高测试精度！
应用领域： 半导体材料光电检测、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、测量表面电阻率测试、精密仪器生产检测、航空航天实验等。 谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套探针台系统，以达更好的测试效果及更高的性价比，具体信息可联系详询。
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