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DCH40系列透射、反射、吸收光谱测试系统分积分球型和外置型两款，根据不同的应用场景及实验需求而定。材料中的很多成份，以不同角度入射，得到的透射率和反射率会因入射角度变化而变化。可以得到材料在正入射时得不到的信息，确定材料的最敏感角度，为进一步的研究提供有效依据。DCH40系列测试系统可以实现不同角度入射和接收，完成多种全角度模式的光谱测量。
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产品特点： ● 光谱范围：200-2500nm ● 可快速多角度光谱测量 ● 软件控制发射端和接收端的角度 ● 系统采取模块化设计，拓展性强 ● 根据不同测量应用，可选不同的光源、滤光片、 偏振片等配件完成不同的测量应用 |
应用领域： ● 纳米光学材料 ● 传感器器件制备 ● 光子晶体器件 ● 角度相关材料分析
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技术参数：
光谱范围 | 200-2500nm | 光锥半角 | 3° | 入射范围 | -90°-90° | 出射范围 | 0-320° | 最小步距 | 0.005° | 重复精度 | 0.05° | 测量模式 | 反射测量、透射测量、散射测量、荧光测量、辐射测量 | 样品台 | 高精度三维位移台+三维旋转台 |
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