技术优势:
.模块化设计,可以搭配不同构件完成不同测试 . 最大可用于12英寸以内样品测试 .探针台整体位移精度高达3μm,样品台精密四维调节 . 兼容多种光学显微镜,可外引光路实现光电mapping测试 . PID控温,可加热至300℃,精度±0.1℃,均匀性±5℃; . 满足1μm以上电极/PAD使用 . 漏电精度可达10pA/100fA(屏蔽箱内) . 探针座采用进口交叉滚珠导轨,线性移动,无回程差设计 . 加宽探针放置架,可放置6个DC探针座/4个RF探针座 . 显微镜可二维精密调节,且可选配多种行程及驱动方式 .材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电mapping测试系统、忆阻器与神经元系统等 |