探针座作为探针台的核心部件,主要用途是连接探针和线缆,为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件,从调节精度上来区分可分为10μm/5μm/3μm/1μm/0.5μm等,从操作方式来区分可分为手动和电动,此外根据应用场景的不同又可分为通用型探针座/万向型探针座/L型探针座等,广泛应用于半导体及光电行业的电学参数测试。 |

| 技术优势:
.主体采用进口航空铝,保证高稳定性的同时,保证线性位移精度; . 位移部分采用精密加工燕尾槽,保证位移精度; .采用手轮驱动,双顶丝设计,保证稳定性; . 多功能调节夹具,可以实现180°旋转及60°定向倾斜,适用于在显微镜下定向调节探针,不阻挡视野; .底部配超强可控磁性底座,磁性吸附能力5Kg,保证扎针稳定性。 |
细节展示: 
技术参数:
探针位移行程 | XYZ三轴分别13mm,180°旋转,精密60°角度倾斜
| 整体结构外形尺寸 | 220mm*45mm*84mm(LWH) | 探针整体位移精度 | 10μm | 漏电精度 | 10pA@同轴线缆,100fA@进口三同轴线缆 | 可选接头 | 同轴线缆(BNC、鳄鱼夹、香蕉插头)/进口三同轴线缆(三同轴接口) | 测量范围 | 电流:10pA/100fA~10A , 电压:最大1000V |
常规选型: 产品型号 | 调节精度 | 配套线缆 | 漏电流精度 | TPLS10-UP | 10μm | 同轴线缆 (可选BNC/鳄鱼夹/香蕉插头) | 10pA | TPLS10H-UP | 10μm | 三同轴线缆 | 100fA |
应用领域:
适用于R/F测量,I/O点测量,直流DC测试,晶圆测试,电阻电压测试,太阳能电池测试,光电流测试,半导体器件分析测试等。
谱量光电可根据客户实际应用需求,定制配套探针台系统,以达更好的测试效果及更高的性价比,具体信息可联系详询。
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