首页 > 产品中心

产品中心

光束质量分析仪

光束质量分析仪是对空间辐射的光束在某一位置横截面上得到光斑,对其内部的光强分布、外形轮廓、光斑大小等信息进行精密定量分析的仪器。它是基于高速面阵CCD或CMOS感光器件,对所测光斑进行完整接收,逐个像素记录对应的光强信息,并还原出光斑的整体光强分布样貌,最终计算光斑直径、光强质心位置坐标等测量结果。

谱量光电提供的光束质量分析仪可实现激光光斑检测和测试应用,对截面光斑进行多维度测试分析,设备采用一体化设计、配套衰减方案设计,支持实时曝光及增益调节。广泛应用于半导体激光器、固体激光器、光纤激光器、超快激光器、激光测距等领域。


可见光光束质量分析仪:

产品特点:

● 具备高分辨率和小像元尺寸

● 兼容脉冲和连续激光测量

● 光斑直径测量范围22μm-22mm

● 接口高速USB3.0/GigE可选

● 紧凑设计,标配支架,衰减,使用方便

● 支持手动和自动实时曝光机增益调节

应用领域:

● 激光光斑检测

● 光学器件质量检查

● 激光腔镜调整

● 外光路准直

● 光纤对准耦合分析

● 激光加工过程检测

技术参数:

型号

BAS4.3-1100

BAS7.1-1100

BAS10.4-1100

BAS15-1100

检测波段

300-1100nm

300-1100nm

300-1100nm

300-1100nm

成像尺寸

5.7*4.3mm

8.4*7.1mm

14.1*10.4mm

15.8*21mm

像元尺寸

2.2μm

3.45μm

3.45μm

6μm

最小下沉距离

6mm

6mm

6mm

6mm

曝光时间

0.05-500ms

0.05-500ms

0.05-500ms

0.05-500ms

快门

卷帘

全局

全局

全局

光斑检测范围

22μm-4.3mm

34.5μm-7.1mm

34.5μm-10.4mm

60μm-15mm

最大功率密度

50W/cm2(OD3.5衰减)

50W/cm2OD3.5衰减)

50W/cm2OD3.5衰减)

50W/cm2OD3.5衰减)

最大功率

1W

1W

1W

1W

衰减器

标配OD1+2+3

标配OD1+2+3

标配OD1+2+3

标配OD1+2+3

数据接口

USB3.0

USB3.0

USB3.0

USB3.0

外触发

不支持

支持

支持

支持

结构类型最小尺寸,侧面接线背面结构,兼容C口背面结构,兼容C口背面结构,兼容C口
外形尺寸见结构图见结构图见结构图见结构图
使用环境15~25℃,湿度<60%15~25℃,湿度<60%15~25℃,湿度<60%15~25℃,湿度<60%
重量

<500g

<500g<500g<500g


近红外光束质量分析仪:


产品特点:

● 波长响应范围400-1700nm

● 实时监测光束形状及位置等变化

● 高分辨率,高准确率

● 接口高速USB3.0/GigE可选

● 兼容测量连续及脉冲激光器

应用领域:

● 红外激光束轮廓分析

● 光电设备制造控制

● 光电测试和检验

● 光纤检查

● 激光加工过程检测

技术参数:

型号

BASN2.6-1700

BASN5.1-1700

检测波段

400-1700nm

400-1700nm

成像尺寸

3.2*2.6mm

6.4*5.1mm

像元尺寸

5*5μm

5*5μm

传感器类型

InGaAs

InGaAs

分辨率

656*520

1280*1024

光斑检测范围

50μm-2.6mm

50μm-5.1mm

快门

全局

全局


应用实例: