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谱量光电（PLCTS）电致发光测试系统是一种用于测量发光器件（如OLED，QLED，PeLED等）光电性能的高精密设备。测试系统经过可溯源的光源进行定标，能够进行测量亮度、色坐标、辐射通量、V-I 特性、EQE等数据。测量所需操作只要在软件界面上就可完成，实现自动化测量。系统结构简单，操作方便。整体系统体积小巧、操作简单、测试高效等特性。系统主要由积分球、光纤光谱仪、多模光纤、Keithley数字源表、样品夹具、积分球支架等组成。 积分球采用进口的高漫反射材料PTFE高温烧制而成,反射率高达99%，200-2500nm光谱范围内都具有良好的朗伯特性；光纤光谱仪采用滨松制冷型面阵CCD传感器，具有高灵敏度、低噪声、高信噪比低温漂等特点。通过制冷技术抑制探测器热噪声，光谱仪的暗电流显著降低，信噪比大幅提升，同时能够检测到更微弱的光信号，适用于透反射率、荧光、拉曼等微弱信号分析；源表配置Keithley主流2450型产品，测试精度高，噪声小，保证测试准确度。
产品特点： ● 测量谱段宽，覆盖紫外至近红外 ● 操作简便，易上手，即学即用 ● 实时显示光谱数据，快速全光谱一键测量 ● 可测量随电压变化的参数走势，如IV、亮度、辐照度等 ● 专用软件内嵌计算算法，直接得到测量结果 ● 根据不同测量应用，模块配置可任意搭配 | 应用领域： ● OLED显示器件测试 ● 新型半导体激光器电光转换 ● 钙钛矿太阳能电池检测 ● 半导体发光器件研究 ● 柔性显示/发光器件 ● 低维材料、碳纳米材料的发光特性分析 |
技术参数：
| 型号 | 项目名称
| 单位 | 指标 | ELCY-M
| 波长范围 | nm
| 200-2500 | 检测范围 | nm | 200-1100 | 配置源表 | / | Keithley 2450 | | 积分球涂层 |
| PTFE | | 涂层反射率 | / | >98% | | 光谱仪信噪比 | / | 1000:1 | | 动态范围 | / | 85000:1 | | 光纤接口 | / | SMA905 | | 光纤长度 | / | 1 | | 光纤芯径 | μm | 1000 | | 可测参数 | / | EL谱，EQE外量子效率，时域稳定性，IV，亮度，辐照度，色坐标等 | | 分析软件 | / | TRSFie（自研，融合计算算法） | | 模块组成 | / | 数字源表、积分球、光谱仪、光纤、系统支架、样品夹具、分析软件等 |
注：系统采用模块化集成方案，各模块可据实际应用及采购预算综合选型，如光谱仪可选配常规款、制冷款、红外款等。
了解产品详细信息，请登录查阅我司官方商城 （ www.plctss.com ） 光电测试系统版块。
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